UI-X6220是一个专用于MEMS芯片的数字功能测试板卡，可用于多功能测试，量产测试等每张板卡有32个通道，每个通道有PMU功能，通过多板卡级联，能扩展到最多512个通道，可以进行DC，AC相关参数测试

  每个数字通道有独立的可编程功能， 可以用作drive hi, drive lo, sense hi, sense lo和load value，另外，每个通道提供了高精度测量单元(PMU)，以便用户能进行DUT(device under test)的测试，包括参数测试，并行测试等

  UI-X6220是基于PXI架构的板卡，具有多功能测试能力，提供了I2C/SPI功能，counter计数器功能，每张板卡能提供16site的I2C测试，8site的SPI测试，通过级联，可以并行测试高达128site，同时，UI-X6220也有pattern memory的功能，每通道32M ，能进行10M的动态数字功能测试

  基于Per pin per site的架构，能支持ATE的功能测试，可扩展性强，支持多种软件开发环境，能快速帮助客户进行开发，性价比高，能为客户减小开发成本，快速切入市场，同时，该板卡也可以和其他功能板卡一起配合使用，比如RF板卡，SMU板卡，多功能数模板卡等，能提供完整的基于PXI的测试方案，能应用到  MEMS测试，传感器芯片测试，RF芯片测试，电源管理芯片测试，多功能芯片测试等 

特点

标准PXI总线架构

每板32个PMU

16个I2C master，可达400kHz时钟速率

8个SPI master，可达10MHz时钟速率

16个32bit计数器,可达10ns

时钟速率可达10MHz

32个 I/O通道，每通道PMU功能 

电压范围-1V到+10V

每个pin独立，支持any pin to any site

每个pin独立的PMU功能，独立的DC level

操作系统支持Windows 7/10 等

支持LabView/ LabWindows 等

支持主/从架构通信模式

目标应用

MEMS芯片测试

G-SENSOR 测试

I2C /SPI功能测试

自动测试设备(ATE)

数字功能测试